紅旗研發(fā):一汽首款 750V 碳化硅功率芯片流片成功

2023/4/14 21:10:01 來(lái)源:IT之家 作者:瀟公子 責(zé)編:瀟公子

IT之家 4 月 14 日消息,紅旗研發(fā)總院新能源開(kāi)發(fā)院功率電子開(kāi)發(fā)部與中國(guó)電子科技集團(tuán)第 55 研究所聯(lián)合開(kāi)發(fā)的一汽首款電驅(qū)用 750V 碳化硅功率芯片近期完成樣品流片,正式進(jìn)入產(chǎn)品級(jí)測(cè)試階段。

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750V 碳化硅功率芯片

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功率芯片貼裝工藝驗(yàn)證

碳化硅技術(shù)是新能源電驅(qū)系統(tǒng)發(fā)展的核心驅(qū)動(dòng)力之一,未來(lái) 5 年車(chē)用碳化硅功率模塊的年復(fù)合增長(zhǎng)率將達(dá)到 38.3%,市場(chǎng)規(guī)模將達(dá)到 44.13 億美元(IT之家備注:當(dāng)前約 303.17 億元人民幣)。作為電驅(qū)系統(tǒng)功率模塊的核心器件,碳化硅功率芯片仍然處于被國(guó)外芯片企業(yè)壟斷的狀態(tài),成為限制我國(guó)新能源汽車(chē)快速發(fā)展的關(guān)鍵瓶頸。

紅旗功率電子開(kāi)發(fā)部依托豐富的電驅(qū)系統(tǒng)開(kāi)發(fā)應(yīng)用經(jīng)驗(yàn),主導(dǎo) 750V 碳化硅功率芯片產(chǎn)品技術(shù)需求定義,聯(lián)合中電科 55 所,從結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、工藝技術(shù)、材料應(yīng)用維度開(kāi)展技術(shù)攻關(guān),芯片比導(dǎo)通電阻達(dá)到 2.15mΩ?cm2,最高工作結(jié)溫 175℃,達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平。

采用有限元仿真和工藝實(shí)驗(yàn)相結(jié)合的方法,完成平面柵碳化硅芯片的元胞建模及結(jié)構(gòu)優(yōu)化設(shè)計(jì)。開(kāi)展 JFET 區(qū)結(jié)構(gòu)參數(shù)優(yōu)化,使芯片在導(dǎo)通和阻斷性能之間取得最佳平衡;對(duì)終端結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化,提高終端保護(hù)效率,提升器件耐壓能力。

建立穩(wěn)定的碳化硅芯片薄片工藝,通過(guò)襯底減薄和激光退火的方法有效降低襯底電阻;采用柵介質(zhì)氧化及氧化后的氮化處理方法,降低界面態(tài)密度,完成一氧化氮退火工藝參數(shù)優(yōu)化及可靠性驗(yàn)證,提高了溝道遷移率和閾值電壓穩(wěn)定性。

采用國(guó)產(chǎn)低缺陷襯底材料與高均勻性外延材料,進(jìn)一步降低碳化硅功率芯片失效概率,提高芯片可靠性;應(yīng)用可支持銀燒結(jié)工藝的表面金屬層材料,大大提升了芯片散熱效果,可支持高溫下的穩(wěn)定安全工作。

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平面柵元胞結(jié)構(gòu)示意圖

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電場(chǎng)分布仿真示意圖

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